超聲波硬計MIC10利用UCI(Ultrasonic Contact Impedance-超聲波接觸阻抗)方法能快速、方便地對維氏硬度凹處進行評價，無需使用顯微鏡。

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更新時間：2025-06-07
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MIC10超聲波硬度計

超聲波硬計MIC10利用UCI（Ultrasonic Contact Impedance-超聲波接觸阻抗）方法能快速、方便地對維氏硬度凹處進行評價，無需使用顯微鏡。小而輕的MIC 10使用電池供電，可在現(xiàn)場快速使用，MIC10超聲波硬度計在各方面不受限制，甚至可用在端頭位置。MIC10超聲波硬度計可適用于任何形狀、尺寸的大多數(shù)細晶粒、材料，特別適合于小公差范圍內(nèi)確定材料特性。可測量的工件部位包括法蘭盤邊緣和齒輪根部，也可在任何方向測量，如水平或垂直向上。

MIC10超聲波硬度計特點
·高精度測量：由于連續(xù)頻率測量在進入測量表面的穿透過程中得到監(jiān)控；
·硬度值的變化和顯示：單位HV、HB、HRC、HRB和抗拉強度N/mm2；
MIC10DL為存儲型，配備有內(nèi)部存儲器和附加存儲卡
·內(nèi)部數(shù)據(jù)記錄器可記錄約1500個測量值，另有存儲卡可存儲約590個測量值；
·可打印靜態(tài)指示功能（zui大讀數(shù)、zui小讀數(shù)、和相對標準偏差）
·RS232接口可通過計算機機遙控或通過打印機可將檢測結果存檔。

MIC10超聲波硬度計技術參數(shù)

測量/轉(zhuǎn)換范圍：20～1740HV、48～105HRB、20～68HRC、76～618HB、5～2250N/mm2（10Kg探頭）
顯示：4位LCD帶開關背光
分辨率：1HV；1HB；5N/mm2；0.1/0.5/1HRC和HRB（可選）
數(shù)據(jù)內(nèi)存：數(shù)據(jù)記錄器可存1500個測量值，存儲卡可存590個數(shù)據(jù)（MIC10DL）
接口：RS232接口，可用于打印機和計算機雙向通訊（MIC10DL）
電源：2節(jié)1.5V電池
尺寸重量：160x70x45mm，300g

MIC10超聲波硬度計L探頭和附件

手動標準探頭MIC201A：10N/1Kgf負載，特別適用于小凹槽表面
手動標準探頭MIC205A：50N/5Kgf負載，適用于大多數(shù)的應用
手動標準探頭MIC2010A：100N/10Kgf負載，適用于粗晶粒材料和粗糙表面
手動短探頭MIC201AS（10N/1Kgf負載）/MIC205AS（50N/5Kgf負載）
手動長探頭MIC201AL（10N/1Kgf負載）/MIC205AL（50N/5Kgf負載），配備有一個較長的振蕩棒（37mm）。用于測量輪廓表面，或工件結構深的內(nèi)腔/凹槽中。如蝸桿齒輪和嚙合齒輪。
電動探頭MIC2103A（3N/0.3Kgf）、MIC211A（大約8N/0.8Kgf）和電動探頭MIC2101A（1N/0.1Kgf），配置有電動控制的維氏硬度計金剛石，能獲得可靠的測量結果。
檢驗合格的硬度參考塊

MIC10超聲波硬度計技術參數(shù)

型號	負載	探頭直徑	探頭長度
手動標準探頭MIC201A 手動標準探頭MIC205A 手動標準探頭MIC2010A	1kgf 5kgf 10kgf	19mm	162mm
手動長探頭MIC201AL 手動長探頭MIC205AL	1kgf 5kgf	19mm	190mm
手動短探頭MIC201AS 手動短探頭MIC205AS	1kgf 5kgf	19mm	90mm
電動探頭MIC2101A 電動探頭MIC2103A 電動探頭MIC211A	0.1kgf 0.3kgf 0.8kgf	38.5mm	217mm

1kgf 載荷的凹痕直徑和深度
維氏硬度 HV	F=1kgf
維氏硬度 HV	直徑d（μm）	深度t（μm）	zui小材料厚度（μm）
250	86	12	120
500	61	9	90
750	50	7	70
1000	43	6	60

5kgf 載荷的凹痕直徑和深度
維氏硬度 HV	F=5kgf
維氏硬度 HV	直徑d（μm）	深度t（μm）	zui小材料厚度（μm）
250	193	28	280
500	136	19	190
750	111	16	160
1000	99	13	130

10kgf 載荷的凹痕直徑和深度
維氏硬度 HV	F=98N
維氏硬度 HV	直徑d（μm）	深度t（μm）	zui小材料厚度（μm）
250	272	39	390
500	193	28	280
750	157	22	220
1000	136	19	190

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超聲波硬計MIC10利用UCI(Ultrasonic Contact Impedance-超聲波接觸阻抗)方法能快速、方便地對維氏硬度凹處進行評價，無需使用顯微鏡。

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